Digital Circuit Functional Verification(六)

检测与测试的比较( TESTING VERSUS VERIFICATION )

Verification => 保证在功能上实现设计要求
Testing       => 最后的硬件结构和制造工艺中的网表一致

1. 扫描测试(Scan-Based Testing ) (DFT-ATPG)

目的：扫描检测在某种程度上解决检测覆盖问题
方法：把所有的寄存器组成一个很长的串行链。在正常的状态下，
寄存器正常工作，在扫描状态下，寄存器则表现为一个很长的移位寄存器。

• 进行扫描检测时，检测对象必须置于扫描状态，再用一个输入量移位通
过所有的寄存器。
• 把检测对象置为正常状态，外加一个单时钟周期，把扫描状态下的正常
运行结果载入寄存器。
• 再一次把检测对象置为扫描状态。由寄存器输出结果（同时输入下一个
变量），并把它和期望值比较。
为了能插入扫描链和自动产生检测形式，设计必须受到一些限制。这些
限制包括：完全的同步性，没有导出时钟和门控时钟，只能使用时钟的
单个边沿，等等。

2. 为测试而设计 (BIST...)

• 设计方案作某些修订，以适应测试的要求。
• 因为功能测试所花的时间是设计本身的两倍，所以完全有必要在设计
上多花点时间，以简化测试过程。
• 正如设计中插入扫描链可以增加可检测性而不增加功能一样，应该在
设计中加入非功能性结构和特征以适应测试的需要。
• 要求在一个项目的开始就考虑到测试，尤其是在制定要求的阶段。
• 设计本身不仅要回答“要实现什么功能？”，而且要回答“如何来进行测
试？”。
• 典型的技术包括: 额外提供可软件编码的的寄存器，以控制和观察内部
地址，或用另外的可编程器件来隔离或绕过某些功能部件。

3 测试与设计方案再用(IPs)

设计能够被再用的关键是取得别人的信任： 设计再用最大的障碍是人为差
异，设计人员都不大愿意在自己的设计过程中引进不熟悉的方法和结果，他
们认为别人设计的没有自己亲自设计的好，或着不如自己设计的可靠。
是否值得信任的特征是看有没有一个适当的测试过程。如果能向用户证明该
设计曾按照要求从头到尾认真测试过，那么就能取得用户的信任。
再用一项设计，只能通过功能测试来证明其正确性。因此，可再用设计和一
般的设计比起来，更需要通过测试来取得信任。
可再用设计需更加结构化，更具有可编程性，方能满足不同的环境条件和不
同的应用，所以所有可能的结构和应用都要测试到。可再用设计所有的特点
都要展示给用户，并作出测试。