一. 测试占去总投入的70%以上
• 集成电路上可能集成数以百万计的门电路。
• 在可再用IP和片上集成系统（SoC）中，测试占去总投入的70%以上。
• 设计人员中要分出专门的人去进行测试，其中包括专职从事
测试的人员。测试人员通常是RTL设计人员的两倍。
• 设计方案完成以后，建立测试平台的代码占代码总量的80%。
二. 同步作业可以缩短测试时间 (?)
• 如果能同步作业，就可以有效的使用闲置的人力物力以缩短测试时间。
• 测试中采用同步作业的方法是建立测试平台和功能测试的过程与
设计的实现过程同时进行。(有其困難之處, Spec.必須在開始Design前已經完成)
三. 提高抽象可以缩短测试时间(?)
• 提高抽象程度，开发人员就可以不必顾及某些细节而提高效率。(?)• 提高抽象程度通常就意味着减少控制，因此必须慎重采用。
• 较高的抽象程度也要求开发人员懂得一些抽象技术以及如何取得
理想的效果。(designer未必有時間及能力去了解這些技術)
四. 自动化技术能减少测试时间(Reuse Verification IP)
• 自动化技术要求过程规范，预先明确定义输入和输出。(constraints)
• 并非所有的过程都能自动完成。
• 测试面临同样的问题。因为功能，接口，协议和转换格式的不
同，不可能从已有方法中找到一种普遍适用的自动测试技术。
• 测试过程部份实现自动化还是可能的，尤其在应用领域不是那么
宽广的情况下，更是如此。
• 对测试进行了一些标准定义，可能有助于在不久的将来实现自动化。
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